Characterization of pin-GaN diodes radiation detection for alpha-ray
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复制标题
pin-GaN 二极管 α 射线辐射检测的表征
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Nakano
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Arikawa;K. Mochizuki;M. Sugiura;H. Nakagawa;S. Usami;M. Kushimoto;Y. Honda;H. Amano;S. Schütt;A. Vogt;M. Fiederle;H. Mimura;Y. Inoue;T. Aoki;T. Nakano
