T.Hiramoto and H.Majima (Invited): "Characteristics of Silicon Nano-Scale Devices"Proceedings of International Conference on Simulation of Semiconductors Processes and Devices (SISPAD 2000), Seattle, USA. 179-183 (2000)
T.Hiramoto and H.Majima (Invited): "Characteristics of Silicon Nano-Scale Devices"Proceedings of International Conference on Simulation of Semiconductors Processes and Devices (SISPAD 2000), Seattle, USA. 179-183 (2000)
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T.Hiramoto 和 H.Majima（特邀）：“硅纳米级器件的特性”半导体工艺和器件模拟国际会议 (SISPAD 2000) 论文集，美国西雅图。
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