Takahiro Namazu, Yoshitada Isono: "Quasi-static Bending Test of Nano-Scale SiO2 Wire at Intermediate Temperatures Using AFM-based Technique"Sensor and Actuators A, Elsevier. 104. 78-85 (2003)
Takahiro Namazu, Yoshitada Isono: "Quasi-static Bending Test of Nano-Scale SiO2 Wire at Intermediate Temperatures Using AFM-based Technique"Sensor and Actuators A, Elsevier. 104. 78-85 (2003)
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Takahiro Namazu、Yoshitada Isono：“使用基于 AFM 的技术在中间温度下对纳米级 SiO2 线进行准静态弯曲测试”传感器和执行器 A，Elsevier。
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