The unique phenomenon of IGZO TFTs degradation under dynamic stress
The unique phenomenon of IGZO TFTs degradation under dynamic stress
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IGZO TFT 在动态应力下退化的独特现象
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Mami Fujii
中科院分区：
文献类型：
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作者：
濱本雄治;加藤岳生;Mami Fujii;Mami Fujii;Mami Fujii;藤井茉美;藤井茉美;Mami Fujii;Mami Fujii;Mami Fujii;藤井茉美;Mami Fujii
