M.Makino: "Evaluation of emitter materials by ultra-high vacuum scanning Maxwell-stress microscope (UHV-SMM)" Technical Report of IEICE. ED97-171. 33-38 (1997)
M.Makino: "Evaluation of emitter materials by ultra-high vacuum scanning Maxwell-stress microscope (UHV-SMM)" Technical Report of IEICE. ED97-171. 33-38 (1997)
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M.Makino：“通过超高真空扫描麦克斯韦应力显微镜（UHV-SMM）评估发射器材料”IEICE 的技术报告。
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