Numerical analysis of pulsed I-V curves and current collapse in GaN FETs as affected by buffer trapping
Numerical analysis of pulsed I-V curves and current collapse in GaN FETs as affected by buffer trapping
复制标题
受缓冲捕获影响的 GaN FET 中的脉冲 I-V 曲线和电流崩溃的数值分析
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Horio
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Nakano;H.Takayanagi;K.Yonemoto;K.Horio
