ZrSiO_x/GeO_2/Ge MIS構造の形成と電気的評価
ZrSiO_x/GeO_2/Ge MIS構造の形成と電気的評価
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ZrSiO_x/GeO_2/Ge MIS结构的形成及电学评估
DOI:
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发表时间:
2009
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
中島寛
中科院分区:
文献类型:
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作者:
岩村義明;平山佳奈;吉野圭介;楊海貴;王冬;中島寛