Ultrashort, MeV-scale laser-plasma positron source for positron annihilation lifetime spectroscopy
Ultrashort, MeV-scale laser-plasma positron source for positron annihilation lifetime spectroscopy
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用于正电子湮没寿命光谱的超短兆电子伏级激光等离子体正电子源
DOI：
10.1103/physrevaccelbeams.24.073402
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发表时间：
2021
影响因子：
1.7
通讯作者：
Audet T
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Audet T
亚微米缺陷代表了制造中众所周知的基本问题，因为它们可以显著影响几乎任何高价值组件的性能和寿命。正电子湮没寿命谱可以说是唯一建立的方法，能够检测到亚纳米尺度的缺陷，但到目前为止，它只适用于表面研究，并具有有限的分辨率。在这里，我们的实验和数值计算表明，激光驱动系统可以克服这些众所周知的限制，通过产生超短正电子束的动能可调从500千电子伏到2兆电子伏和正电子的数量在50千电子伏的能量切片的顺序每拍摄。一个典型的兆焦耳尺度的kHz激光器的预期性能的数值模拟表明，产生兆电子量级的窄带和超短正电子束的通量超过，感兴趣的快速体积扫描的材料在高分辨率的可能性。
Submicron defects represent a well-known fundamental problem in manufacturing since they can significantly affect performance and lifetime of virtually any high-value component. Positron annihilation lifetime spectroscopy is arguably the only established method capable of detecting defects down to the subnanometer scale but, to date, it only works for surface studies, and with limited resolution. Here, we experimentally and numerically show that laser-driven systems can overcome these well-known limitations, by generating ultrashort positron beams with a kinetic energy tuneable from 500 keV up to 2 MeV and a number of positrons per shot in a 50 keV energy slice of the order of. Numerical simulations of the expected performance of a typical mJ-scale kHz laser demonstrate the possibility of generating MeV-scale narrow-band and ultrashort positron beams with a flux exceeding, of interest for fast volumetric scanning of materials at high resolution.
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影响因子：
8.6
作者：
TAJIMA, T;DAWSON, JM
通讯作者：
DAWSON, JM
固体中的正电子湮灭
DOI：
--
发表时间：
1970
期刊：
影响因子：
--
作者：
R. M. Singru
通讯作者：
R. M. Singru
影响因子：
8.6
作者：
Chen, Hui;Wilks, S. C.;Beiersdorfer, P.
通讯作者：
Beiersdorfer, P.
影响因子：
19.6
作者：
Fuchs, J;Antici, P;Audebert, R
通讯作者：
Audebert, R
影响因子：
8.6
作者：
Green, J. S.;Ovchinnikov, V. M.;Norreys, P. A.
通讯作者：
Norreys, P. A.