街寧, 島村直樹, 遠藤宏子, 大久保智裕, 井内徹: "高温下におけるSi半導体ウエハの放射率・透過率測定"第3回東洋大学工業技術研究所講演会. 17-18 (2004)

Masatoshi、Naoki Shimamura、Hiroko Endo、Tomohiro Okubo、Toru Inouchi：“高温下硅半导体晶片的发射率和透射率的测量”第 3 届东洋大学产业技术研究所会议（2004 年）。