S.Miyazaki: "Evaluation of Gap States in Hydrogen-Terminated Silicon Surfaces and Ultrathin SiO_2/Si Interfaces by Using Photoelectron Yield Spectroscopy" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.500 (to be published). (1998)
S.Miyazaki: "Evaluation of Gap States in Hydrogen-Terminated Silicon Surfaces and Ultrathin SiO_2/Si Interfaces by Using Photoelectron Yield Spectroscopy" Mat.Res.Soc.Symp.Proc.500 (to be published). (1998)
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S.Miyazaki：“使用光电子产率光谱法评估氢端硅表面和超薄 SiO_2/Si 界面中的间隙态”Mat.Res.Soc.Symp.Proc.500（待出版）。
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