Failure analysis of CuW/CuCrZr contact materials in capacitor bank switch
Failure analysis of CuW/CuCrZr contact materials in capacitor bank switch
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电容器组开关CuW/CuCrZr触头材料失效分析
DOI：
10.1016/j.engfailanal.2016.01.007
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发表时间：
2016
影响因子：
4
通讯作者：
Zhang Youpeng
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zhang Qiao;Liang Shuhua;Yang Xiaohong;Li Zhibing;Li Yuchun;Zhang Youpeng
