The electronic properties of the interface between a thin conjugated oligomer film and SiO2/Si(111), studied by photoemission spectroscopies
The electronic properties of the interface between a thin conjugated oligomer film and SiO2/Si(111), studied by photoemission spectroscopies
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通过光电发射光谱研究共轭低聚物薄膜与 SiO2/Si(111) 之间界面的电子特性
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Kennou
中科院分区：
文献类型：
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作者：
V. Papaefthimiou;A. Siokou;S. Kennou
