原子間力顕微鏡によるIn/Si(111)-8×2表面の測定
原子間力顕微鏡によるIn/Si(111)-8×2表面の測定
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使用原子力显微镜测量In/Si(111)-8×2表面
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
杉本宜昭
中科院分区：
文献类型：
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作者：
岩田孝太;山崎詩郎;塩足亮隼;杉本宜昭
