Determination of the second critical endpoint in silicate-H2O systems using high-pressure and high-temperature X-ray radiography
Determination of the second critical endpoint in silicate-H2O systems using high-pressure and high-temperature X-ray radiography
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使用高压高温 X 射线照相法确定硅酸盐-H2O 系统中的第二个关键终点
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Kanzaki他4名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Mibe;M.Kanzaki他4名
