Single Event Upset rates in the CBC in CMS
Single Event Upset rates in the CBC in CMS
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CMS 中 CBC 中的单事件扰乱率
DOI：
10.1016/j.nima.2020.164416
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hall G
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hall G
摘要CMS二进制芯片（CBC）是CMS跟踪器升级后用于高亮度LHC操作的前端ASIC。它将装备特殊的硅微带探测器，以在真实的时间内识别高横向动量粒子，因此跟踪数据可以用于L1触发器。CBC应该对单粒子翻转（SEU）具有鲁棒性。SEU率已在一系列的测试中，在62 MeV的质子束测量。每个版本的芯片都增加了数字电路，因此增加了SEU敏感性，并且还进行了影响SEU容限的设计改进。相关的设计特点进行了解释和SEU测量报告。估计了HL-LHC的预期SEU率。
Abstract The CMS Binary Chip (CBC) is a front-end ASIC to be used by the CMS tracker following its upgrade for High Luminosity LHC operation. It will instrument special silicon microstrip detectors to identify high transverse momentum particles in real time so tracking data can be used in the L1 trigger. The CBC should be robust against Single Event Upsets (SEUs). SEU rates have been measured in a series of tests in a 62 MeV proton beam. Each version of the chip has increased the digital circuitry, and hence the SEU susceptibility, and has also been subject to design improvements which affect SEU tolerance. The relevant design features are explained and SEU measurements reported. The expected SEU rates at the HL-LHC are estimated.
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