Hot Carrier Phenomena in Oxide Thin-Film Transistors
Hot Carrier Phenomena in Oxide Thin-Film Transistors
复制标题
氧化物薄膜晶体管中的热载流子现象
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Tanabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Jun Tanaka;Mami N. Fujii;Ryoko Miyanaga;Takanori Takahashi;Kazushige Takechi;Hiroshi Tanabe
