Electronic Transport Properties and ESR Measurement in UV-Irradiated C_<60> FNW-FET
Electronic Transport Properties and ESR Measurement in UV-Irradiated C_<60> FNW-FET
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紫外线照射的 C_<60> FNW-FET 中的电子输运特性和 ESR 测量
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Ochiai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Doi;Y.Chiba;K.Koyama;T -YLiu;N.Aoki;J.P.Bird;Y.Ochiai
