Trap states elucidated by a.c. conductance measurement in polycrystalline chemically vapour-deposited diamond films
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DOI：
10.1016/0925-9635(93)90227-s
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发表时间：
1993-04
影响因子：
4.1
通讯作者：
T. Sugino;Y. Muto;Kiyoshi Karasutani;J. Shirafuji;K. Kobashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Sugino;Y. Muto;Kiyoshi Karasutani;J. Shirafuji;K. Kobashi
