Imaging of crystalline substances in scanning transmission electron microscopy
Imaging of crystalline substances in scanning transmission electron microscopy
复制标题
扫描透射电子显微镜中结晶物质的成像
DOI：
10.1002/pssa.2210280127
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发表时间：
1975
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Nishizawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Yamamoto;H. Nishizawa
通过使用扫描透射电子显微镜，在两种不同的光束照射下观察包含堆垛层错的晶体，在两种不同的光束照射下，直接光束和衍射光束在衍射图案中分离的照射和所述光束重叠的照射。用电子衍射理论解释了所得到的图象的性质。桥本为高压电子显微术开发的多束成像技术在扫描模式下比在传统的透射模式下更有用。
在两种不同的定向和定向的射线中，绝对透射电子显微镜可以观察到晶体和Stapelfehlern，在定向和定向的射线中可以观察到晶体，在定向和定向的射线中可以观察到晶体。动态图的艺术与电子工程理论密切相关。桥本的高电子显微镜所采用的激光技术，既适用于光学技术，也适用于光学传输技术。
By using a scanning transmission electron microscope, a crystal containing stacking faults was observed at two different beam illuminations, an illumination in which the direct and diffracted beams were separated in the diffraction pattern and an illumination in which the said beams were overlapped. The nature of the images obtained is explained by electron diffraction theory. The multi-beam imaging technique developed for high-voltage electron microscopy by Hashimoto is more useful in the scanning mode than in the conventional transmission mode.
Mit Abtast-Transmissionselektronenmikroskopie wurden Kristalle mit Stapelfehlern bei zwei unterschiedlichen Strahlanordnungen beobachtet, eine, bei der die direkten und gestreuten Strahlen im Beugungsbild getrennt wurden und eine, bei der die erwahnten Strahlen uberlappt wurden. Die Art der erhaltenen Diagramme wird mit Elektronen-beugungstheorie erklart. Die Mehrstrahltechnik, die fur Hochspannungs-Elektronen-mikroskopie von Hashimoto entwickelt wurde, erweist sich in der Abtasttechnik nutzlicher als in der ublichen Transmissionstechnik.