Shuichi Toriyama et al.: "Probability Distribution Functions of Threshold Voltage Fluctuations due to Random Impurities in Deca-nano MOSFETs"Physica E. Vol.19. 44-47 (2003)
Shuichi Toriyama et al.: "Probability Distribution Functions of Threshold Voltage Fluctuations due to Random Impurities in Deca-nano MOSFETs"Physica E. Vol.19. 44-47 (2003)
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Shuichi Toriyama 等人：“Deca-nano MOSFET 中随机杂质导致的阈值电压波动的概率分布函数”Physica E. Vol.19。
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