M.B. Takeyama, K. Satoh, T. Itoi, M. Sakagami, A. Noya: "Failure mechanism of thin VN barrier between Cu and SiO_2"Technical Report of IEICE. CPM2003-00 to be presented. (2003)
M.B. Takeyama, K. Satoh, T. Itoi, M. Sakagami, A. Noya: "Failure mechanism of thin VN barrier between Cu and SiO_2"Technical Report of IEICE. CPM2003-00 to be presented. (2003)
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