Michio Hibino: "Reduction of statistical Noise of Electrons in STEM" Proceedings og the 4th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (1988)
Michio Hibino: "Reduction of statistical Noise of Electrons in STEM" Proceedings og the 4th Asia-Pacific Conference on Electron Microscopy. (1988)
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Michio Hibino：“减少 STEM 中电子统计噪声”第四届亚太电子显微镜会议论文集。
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