Development of a high-sensitivity CdTe semiconductor imager with a parallel-hole collimator
Development of a high-sensitivity CdTe semiconductor imager with a parallel-hole collimator
复制标题
具有平行孔准直器的高灵敏度CdTe半导体成像仪的开发
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tadayuki Takahashi,
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Miho Katsuragawa;Atsushi Yagishita;Shin'ichiro Takeda;Takahiro Minami;Kazunobu Ohnuki;Hirohumi Fujii;Tadayuki Takahashi,
