T.Cho et al.: "Characterization of New Semiconductor Detectors for X-ray Tomography in the ASDEX Upgrade Tokamak and Its Generalized Physics Interpretations" Review of Scientific Instruments. 68. 774-777 (1997)
T.Cho et al.: "Characterization of New Semiconductor Detectors for X-ray Tomography in the ASDEX Upgrade Tokamak and Its Generalized Physics Interpretations" Review of Scientific Instruments. 68. 774-777 (1997)
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T.Cho 等人：“ASDEX 升级托卡马克中 X 射线断层扫描的新型半导体探测器的特性及其广义物理解释”科学仪器评论。
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