シリコンフォトニクス干渉計を用いた短パルス光および光波長計測
シリコンフォトニクス干渉計を用いた短パルス光および光波長計測
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使用硅光子干涉仪进行短脉冲光和光波长测量
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高 磊
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Nagasaka;T. H. Tuan;H. P. T. Nguyen;T. Suzuki;and Y. Ohishi;高 磊
