Mismatch Characterization of Submicron MOS Transistors
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DOI：
10.1023/a:1008256724276
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发表时间：
1997-02
影响因子：
1.4
通讯作者：
J. Bastos;M. Steyaert;A. Pergoot;W. Sansen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Bastos;M. Steyaert;A. Pergoot;W. Sansen
