Ion beam probe system for potential measurement in the Low Aspect-Ratio Torus Experiment device
Ion beam probe system for potential measurement in the Low Aspect-Ratio Torus Experiment device
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用于低纵横比环面实验装置中电势测量的离子束探针系统
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Iguchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H . Tanaka ;S. Om i ;J . Katsuma ;M.Uchida;T.Maekawa;H.Iguchi
