Yoshinobu Higami: "Test Sequence Generation for Sequential Circuits with distinguishing Sequences" IEICE Transaction on Fundmentals. Vol.E76-A. 1730-1737 (1993)
Yoshinobu Higami: "Test Sequence Generation for Sequential Circuits with distinguishing Sequences" IEICE Transaction on Fundmentals. Vol.E76-A. 1730-1737 (1993)
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Yoshinobu Higami：“具有区分序列的时序电路的测试序列生成”IEICE 基础知识交易。
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