M.OKUYAMA: "Infrared characterization of SiO2 ultra thin film by grazing internal reflection" Extended Abstract of the 1991 Int.Conf.on SSDM,Yokohama. 574-576 (1991)
M.OKUYAMA: "Infrared characterization of SiO2 ultra thin film by grazing internal reflection" Extended Abstract of the 1991 Int.Conf.on SSDM,Yokohama. 574-576 (1991)
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M.OKUYAMA：“通过掠射内反射对 SiO2 超薄膜进行红外表征”1991 年横滨 SSDM 国际会议的扩展摘要。
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