Seiji Kajihara: "Cost-effective Generation of Mimimal Test Sets for Stuck-at Faults in Combinatioual Logic Circwts" IEEE Trans.Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 14. 1496-1504 (1995)
Seiji Kajihara: "Cost-effective Generation of Mimimal Test Sets for Stuck-at Faults in Combinatioual Logic Circwts" IEEE Trans.Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 14. 1496-1504 (1995)
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Seiji Kajihara：“针对组合逻辑电路中的固定故障，经济有效地生成最小测试集”IEEE Trans. 集成电路和系统的计算机辅助设计。
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