Temperature effect as an essential factor in scanning tunneling microscopy study demonstrated by analysis of oxygen-adsorbed Si(111)-7x7 surface

Temperature effect as an essential factor in scanning tunneling microscopy study demonstrated by analysis of oxygen-adsorbed Si(111)-7x7 surface
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通过分析氧吸附的 Si(111)-7x7 表面证明温度效应是扫描隧道显微镜研究的一个重要因素

DOI:
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发表时间:
2004
期刊:
Phys.Rev.B. 70
影响因子:
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通讯作者:
H.Shigekawa
H.Shigekawa
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Y.Konishi;S.Yoshida;Y.Sainoo;O.Takeuchi;H.Shigekawa

文献摘要

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