Micromilled silica REfractometer with Nanoscale Surface Roughness
Micromilled silica REfractometer with Nanoscale Surface Roughness
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具有纳米级表面粗糙度的微研磨二氧化硅折射计
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Carpenter L G
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Carpenter L G
