Investigation for Multilevel Memory Capability of ReRAM using Ta2O5-δ Insulator

Investigation for Multilevel Memory Capability of ReRAM using Ta2O5-δ Insulator
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使用 Ta2O5-δ 绝缘体的 ReRAM 多级存储能力研究

DOI:
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发表时间:
2018
期刊:
2018 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW-2018)
影响因子:
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通讯作者:
and Yasuo Takahashi
and Yasuo Takahashi
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Yuanlin Li;Reon Katsumura;Mika Kristian Gro?nroos;Atsushi Tsurumaki-Fukuchi;Masashi Arita;Hideyuki Andoh;Takashi Morie;and Yasuo Takahashi

文献摘要

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