Pitch Strength and Masking Patterns of Low-Pass Noise
Pitch Strength and Masking Patterns of Low-Pass Noise
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低通噪声的音调强度和掩蔽模式
DOI：
10.1007/978-94-009-9144-6_47
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发表时间：
1980
影响因子：
4.6
通讯作者：
H. Fastl
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Fastl
