ニアフィールド顕微鏡によるナノスケール偏光イメージング

ニアフィールド顕微鏡によるナノスケール偏光イメージング
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使用近场显微镜进行纳米级偏振成像

DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
日本AEM学会誌 13・2
影响因子:
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通讯作者:
西山達
西山達
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
梅田倫弘;西山達

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