Characterization of Thin Film Materials Using Near Field THz Imaging
Characterization of Thin Film Materials Using Near Field THz Imaging
复制标题
使用近场太赫兹成像表征薄膜材料
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F. Blanchard
中科院分区：
文献类型：
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作者：
F. Amirkhan;R. Sakata;K. Takiguchi;T. Arikawa;T. Ozaki;K. Tanaka;F. Blanchard
