Ion-selective nanomapping by atomic force microscopy using tips modified chemically with crown ether
Ion-selective nanomapping by atomic force microscopy using tips modified chemically with crown ether
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使用冠醚化学修饰的尖端通过原子力显微镜进行离子选择性纳米绘图
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
W.Taniwaki;H.Yano;S.Kado;Y.Nakahara;K.Kimura
