エピタキシャルCaSi2薄膜中のシリセンバックリング構造変形による熱電出力因子増大
エピタキシャルCaSi2薄膜中のシリセンバックリング構造変形による熱電出力因子増大
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外延 CaSi2 薄膜中硅烯屈曲结构变形导致热电功率因数增加
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村 芳明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
寺田 吏;上松 悠人;石部 貴史;成瀬 延康;Nguyen Tien Quang;佐藤 和則;中村 芳明
