杂质吸附对背栅MoS2场效应晶体管电学性能的影响
杂质吸附对背栅MoS2场效应晶体管电学性能的影响
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DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
马忠权
中科院分区：
文献类型：
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作者：
蔡剑辉;陈治西;刘晨鹤;张栋梁;刘强;俞文杰;刘新科;马忠权
