CIC導体の素線軌跡調査と接触抵抗の検討
CIC導体の素線軌跡調査と接触抵抗の検討
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CIC导体绞线轨迹研究及接触电阻检验
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷貝剛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Makoto Tsuda;谷貝剛;谷貝剛;Makoto Tsuda;T.Yagai;T.Yagai;M.Tsuda;谷貝剛
