Updated Study of a Precision Measurement of the W Mass from a Threshold Scan Using Polarized $ m{e}^-$ and $ m{e}^+$ at ILC
Updated Study of a Precision Measurement of the W Mass from a Threshold Scan Using Polarized $
m{e}^-$ and $
m{e}^+$ at ILC
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使用 ILC 上的偏振 $ m{e}^-$ 和 $ m{e}^ $ 通过阈值扫描精确测量 W 质量的最新研究
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
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通讯作者：
G. Wilson
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Wilson
一项最新的研究，从偏振阈值扫描测量W质量在ILC提出了重点评估扫描策略，控制实验系统。高度纵向极化的电子束和正电子束在ILC中是可行的，在统计功率和背景的原位控制方面具有显著的优势。这种技术最终的实验精度可以达到2兆电子伏左右。为了充分利用这一机会，可能需要在加速器设计和理论不确定性方面进行进一步的工作。
An updated study of measuring the W mass from a polarized threshold scan at ILC is presented with an emphasis on evaluating scan strategies that control experimental systematics. Highly longitudinally polarized beams of electrons and positrons such as are feasible at ILC offer significant advantages in terms of statistical power and in-situ control of background. Eventual experimental precision of around 2 MeV can be envisaged from this technique. Further work on both the accelerator design and theoretical uncertainties will likely be needed to take full advantage of this opportunity.