N. Ikawa et al.: "Laser Beam as a Straight Datum and Its Application to Straightness Measurement at Nanometer Level" Annals of the CIRP. 37, 1. 523-526 (1988)
N. Ikawa et al.: "Laser Beam as a Straight Datum and Its Application to Straightness Measurement at Nanometer Level" Annals of the CIRP. 37, 1. 523-526 (1988)
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N. Ikawa 等人：“激光束作为直线基准及其在纳米级直线度测量中的应用”CIRP 年鉴。
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