Highly-Resolution X-ray Diffraction Studies of Molecular Beam Epitaxy-Grown ZnSnAs2 Epitaxial Films on InP (001)Substrates
Highly-Resolution X-ray Diffraction Studies of Molecular Beam Epitaxy-Grown ZnSnAs2 Epitaxial Films on InP (001)Substrates
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InP (001) 衬底上分子束外延生长 ZnSnAs2 外延薄膜的高分辨率 X 射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Joel T. Asubar
中科院分区：
文献类型：
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作者：
高田 一朗;井上 順一郎;伊藤 博介;Joel T. Asubar
