Voltage-clamp fluorometry analyses of the secondary structural rearrangements of ATP-gated P2X2 receptor
Voltage-clamp fluorometry analyses of the secondary structural rearrangements of ATP-gated P2X2 receptor
复制标题
ATP 门控 P2X2 受体二级结构重排的电压钳荧光分析
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kubo Y
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Andriani RT;Kubo Y
