Qualitative and Quantitative Analysis of Thin Film Heterostructures by Electron Beam Induced Current
Qualitative and Quantitative Analysis of Thin Film Heterostructures by Electron Beam Induced Current
复制标题
电子束感应电流对薄膜异质结构的定性和定量分析
DOI：
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
R. Scheer
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Scheer
