S.Kajihara,A.Murakami,T.Kaneko: "On Compact Test Sets for Multiple Struck at Faults in Large Circuits"Proceedings of 8th IEEE Asian Test Symposium. 20-24 (1999)
S.Kajihara,A.Murakami,T.Kaneko: "On Compact Test Sets for Multiple Struck at Faults in Large Circuits"Proceedings of 8th IEEE Asian Test Symposium. 20-24 (1999)
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S.Kajihara、A.Murakami、T.Kaneko：“大型电路中多重故障的紧凑测试装置”第八届 IEEE 亚洲测试研讨会论文集。
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