Capture/Emission Process of Carriers in Interface Traps Observed in the Transient Charge-Pumping Characteristics of MOSFETs
Capture/Emission Process of Carriers in Interface Traps Observed in the Transient Charge-Pumping Characteristics of MOSFETs
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MOSFET 瞬态电荷泵浦特性中观察到的界面陷阱中载流子的捕获/发射过程
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J. Murota
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Tsuchiya;K. Yoshida;M. Sakuraba;J. Murota
