極限環境4H-SiC MISFETsのためのAl2O3,Al6Si2O13ゲート絶縁膜の研究
極限環境4H-SiC MISFETsのためのAl2O3,Al6Si2O13ゲート絶縁膜の研究
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极端环境4H-SiC MISFET用Al2O3、Al6Si2O13栅介质薄膜的研究
DOI:
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
黒木 伸一郎
中科院分区:
文献类型:
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作者:
赤瀬 光;Milantha de Silva;長妻 宏都;吉川 公麿;黒木 伸一郎