Serial Block Face Scanning Electron Microscopy Using the JEOL JSM-7100F with Gatan 3View 2XP
Serial Block Face Scanning Electron Microscopy Using the JEOL JSM-7100F with Gatan 3View 2XP
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使用 JEOL JSM-7100F 和 Gatan 3View 2XP 进行串行块面扫描电子显微镜
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Fleck, R.A.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Fleck, R.A.
