Real-Time Full-Chip Thermal Tracking: A Post-Silicon, Machine Learning Perspective

Real-Time Full-Chip Thermal Tracking: A Post-Silicon, Machine Learning Perspective
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实时全芯片热跟踪:后硅时代机器学习视角

DOI:
10.1109/tc.2021.3086112
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发表时间:
2021
影响因子:
3.7
通讯作者:
Tan, Sheldon X.-D.
Tan, Sheldon X.-D.
中科院分区:
计算机科学2区
文献类型:
--
作者:
Sadiqbatcha, Sheriff I;Zhang, Jinwei;Amrouch, Hussam;Tan, Sheldon X.-D.

文献摘要

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